PERHITUNGAN PARAMETER KISI KRISTAL BERSTRUKTUR HEXAGONAL BERDASARKAN POLA DIFRAKSI ELEKTRON DENGAN DENGAN BANTUAN KOMPUTER
Abstract
Pola difraksi electron yang diperoleh melalui mikroskop electron untuk kristal berstruktur hexagonal seperti lapisan tipis cobalt sulit untuk dilakukan secara manual. Oleh karena itu, perlu dilakukan perhitungan terhadap parameter kisi cobalt dengan menggunakan komputer. Dalam penelitian ini, telah dibuat dua buah program komputer yang ditulis dengan menggunakan Matrix Laboratory (Matlab) versi R2008b. Program pertama disebut program menu yang digunakan untuk menulis data yang diperlukan dalam perhitungan. Program kedua disebut program utama yang dibuat untuk melakukan perhitungan terhadap parameter kisi a dan c dengan memanfaatkan data pada program menu. Data yang digunakan dalam penelitian ini adalah pola difraksi elektron cobalt dalam bentuk lapisan tipis dari transmission electron microscope (TEM). Jari–jari dari masing masing cincin pola difraksi cobalt diukur dengan menggunakan jangka sorong. Nilai ini diinputkan kedalam program menu. Program utama akan menghitung nilai dari jarak antar bidang ሺ ????????ℎ???????????????? ) dlam kristal. Langkah berikutnya, program utama akan melakukan perhitungan terhadap nilai-nilai parameter kisi untuk semua kemungkinan bidang dari sistem kristal heksagonal dengan memanfaatkan subroutine bisection. Pada langkah akhir, program utama akan memilih untuk semua kemungkinan bidang bidang kristal dari sistem kristal heksagonal untuk mana nilai parameter kisi a dan c yang hampir sama. Hasil penelitian menunjukkan bahwa perhitungan parameter kisi a dan c untuk h k l berbeda adalah a=2.4998 Å dan c=4.0545 Å.
Keywords
Full Text:
PDF (INDONESIA)References
J.M. D. Coey, 2010, Magnetism and Magnetic Materials Cambridge University Press, Cambridge.
Cullity, B.D. and Graham, C.D. 2009, Introduction to Magnetic Materials. 2nd Edition. Hoboken : John Wiley & Sons.
M.F. Doerner, K. Tang, T. Arnoldussen, H. Zeng, M.F. Toneyand, D. Weller, 2000,IEEE Trans. Magn., 36.
D. Weller, A. Moser, L. Folks, M. Best, W. Lee, M. Toney, M. Schwickert,J. Thiele, and M. Doerner, 2000. IEEE Trans. Magn.36,10.
S.H. Charap, P.-L. Lu, Y. He, 1997. IEEE Trans. Magn., 33, 978.
Y. Wang, Y. Li, C. Rong, and J. P. Liu, 2007.Nanotechnology 18, 465701.
B. Z. Cui, A. M. Gabay, W. F. Li, M. Marinescu, J. F. Liu, and G. C. Hadjipanayis,2010 .J. Appl. Phys. 107, 09A721.
Y. Shen, M. Q. Huang, A. K. Higgins, S. Liu, J. C. Horwath, and C. H. Chen, J.Appl. Phys. 107, 09A722 (2010).
B. Z. Cui, W. F. Li, and G. C. Hadjipanayis, 2011 Acta Mater. 59(2), 563.
S. J. Knutson, Y. Shen, J. C. Horwath, P. Barnes, and C. H Chen. (2011). J. Appl.Phys. 109, 07A762.
Gould, H. 1996, An Introduktion to Computer Simulation Method, Addison Wesley Publishing Company, NewYork.
Cullity, B.D. and Stock, S.R. 2001. Elements of X-Ray Diffraction. Upper Saddle River, NJ : Prentice Hall.
B.D. Cullity, 1972.,‘Introduction to Magnetic Materials’, Addition Wesley Publishing Company.
Feynman, Richard P. 1963. The Feynman Lectures on Physics, Vol. I. Addison-Wesley. pp. 16-10, 17-5.
Champness, P. E. 2001. Electron Diffraction in the Transmission Electron Microscope. Garland Science. ISBN 1-85996-147-9.ISSN 9781859961476.
Le Pole J.B, 1947, Philips Tech. Rundsch, 9, 93.
P. Hirsch, ‘Electron Microscopy of Thin Crystals’, Krieger Publishing, 1977.
Goodhew, P.J., Humphreys, J. dan Beanland, R. 2004. Mikroskopi dan Analisis dengan Elektron. Terjemahan Rahmat Saptono. Penerbit Departemen Metalurgi dan Material Universitas Indonesia, Jakarta.
Smith, W.F. 2004. Foundation of Material Science and Engineering. McGraw-Hill Higher Education: University of Central Florida.
DOI: http://dx.doi.org/10.31258/jkfi.11.9.591-600
Refbacks
- There are currently no refbacks.
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.
Indexing by:
